Raketen- und Waffentechnischer Dienst im Kdo. MB III

Technikkatalog

Halbleiterprüfgerät L2-7

Bestimmung: dynamische Prüfung von Transistoren und Dioden

Foto aufgenommen in Militär-Museum Kossa

Sie befinden sich in:

RWD-MBIII
|--Technik
  |--Messtechnik
    |--L2-7